　　石英晶體常見(jiàn)問(wèn)題系列三之解決因輸出波形幅度過(guò)小而引起的異常.
　　上一期咱們聊到晶振產(chǎn)品無(wú)信號(hào)輸出的情況,也對(duì)這一情況進(jìn)行詳細(xì)分析,并給出了解決方法;除此之外在使用過(guò)程中可能還會(huì)遇到因?yàn)檩敵霾ㄐ畏冗^(guò)小而引起系統(tǒng)無(wú)法工作的異常情況,對(duì)于這種情況我們也有針對(duì)性的解決辦法.
　　當(dāng)遇到這種情況的時(shí)候請(qǐng)不要驚慌,可能是由于某些不正當(dāng)?shù)沫h(huán)境條件或者是參數(shù)設(shè)計(jì)無(wú)法滿足要求所致,并非是晶振產(chǎn)品損毀;所以遇到這種情況不要驚慌,請(qǐng)使用示波器或頻率計(jì)數(shù)器測(cè)量來(lái)自晶體兩個(gè)端子的信號(hào).看看是否有無(wú)輸出信號(hào),如果沒(méi)有輸出型號(hào)的話,我們可以依照上一期晶體無(wú)信號(hào)輸出的方法進(jìn)行檢測(cè)解決.但是如果頻率不在規(guī)格范圍內(nèi),并且其輸出波形幅度不足,那么請(qǐng)按照如下步驟進(jìn)行解決.

　　如果即使頻率非常接近目標(biāo)頻率也沒(méi)有改善波形幅度,則??可以使用以下三種方法來(lái)改善它:
　　1)降低外部電容(Cd和Cg)的值,并采用具有較低負(fù)載電容(CL)的晶體.
　　2)采用低電阻(Rr)的晶體.
　　3)使用Cd和Cg值不相等的設(shè)計(jì).
　　所以我們可以增加Cd(Xout)的負(fù)載電容,并減小Cg(Xin)的負(fù)載電容,以提高來(lái)自Xin的波形幅度輸出,該信號(hào)將在其后端電路中使用.在我們多次試驗(yàn)中,上述方法應(yīng)該是非常棒的,最重要的是方法能夠節(jié)省成本并且確保安全性,建議采用這種方法.
　　當(dāng)然在經(jīng)過(guò)上述調(diào)整之后,頻率并不一定是在規(guī)定的范圍內(nèi)所以我們需要確認(rèn),這時(shí)請(qǐng)使用頻率計(jì)數(shù)器測(cè)量晶體,以確保在提高波形幅度后,調(diào)整后的頻率仍符合原始規(guī)格.如果頻率不符合規(guī)格,請(qǐng)根據(jù)您的目標(biāo)頻率選擇具有合適CL值的貼片晶振.那么應(yīng)該如何進(jìn)行調(diào)整呢?
　　如果測(cè)試出來(lái)的頻率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于目標(biāo)頻率,那么對(duì)于這種情況,我們就需要選擇CL較低的晶振了,反過(guò)來(lái)也是一樣的道理.
　　其實(shí)上述解決方法都有一定依據(jù)的,下面看看電容與頻率的公式如下:

　　根據(jù)上述公式我們可以得到下面的頻率隨電容變化的曲線圖(頻率可拉性):

石英晶體常見(jiàn)問(wèn)題系列三之解決因輸出波形幅度過(guò)小而引起的異常

　　從圖中可以看出頻率和電容存在著很明顯的反比關(guān)系,也就是說(shuō)當(dāng)負(fù)載變小時(shí)頻率變化在增大;當(dāng)負(fù)載增大時(shí),頻率變化的幅度也在降低;這樣我們就可以總結(jié)出一系列的解決辦法,也就是如果頻率計(jì)數(shù)器測(cè)量的頻率高于目標(biāo)頻率,則應(yīng)增加電容值(CL或Cd和Cg)以降低頻率轉(zhuǎn)換為目標(biāo)頻率,反之亦然.
　　調(diào)整頻率后,請(qǐng)檢查波形幅度是否有所改善.如果得到改善,則說(shuō)明電路的原始設(shè)計(jì)沒(méi)有調(diào)整到石英晶振的最佳諧振點(diǎn).調(diào)整諧振點(diǎn)后,晶體應(yīng)能正常工作.
　　好啦,關(guān)于晶體常見(jiàn)問(wèn)題方面的討論咱們就到此為止了,其實(shí)還有很多的現(xiàn)象或者異常情況,這個(gè)我們也不可能也做不到面面俱到,總之我們一直在前進(jìn)中,如果遇到棘手的這方面的問(wèn)題,可以聯(lián)系我們共同討論學(xué)習(xí)進(jìn)步.
　　石英晶體常見(jiàn)問(wèn)題系列三之解決因輸出波形幅度過(guò)小而引起的異常.

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